Résumé:
Le travail présenté dans ce projet porte sur la caractérisation et la modélisation de
transistor LDMOS encapsulé en boîtier dans le domaine des hyperfréquences à base de
différents schémas équivalents. L’extraction des éléments du modèle se fait par la
méthode d’épluchage élaborée par G. DAMBRINE. Après l’extraction des valeurs des
éléments, nous avons implémenté les modèles sur le logiciel de simulation ADS et fait une
étude comparative des paramètres S mesurés et ceux simulés. Nous avons obtenu un bon
accord pour tous les schémas, ce qui veut dire que les schémas équivalents utilisés sont
très acceptables et bien adaptés pour ce genre de transistors. A la fin, nous avons
simplifié le modèle pour améliorer le temps d’extraction de ses éléments.