Résumé:
Dans ce travail de mémoire, nous avons préparé des films minces d’oxyde d’étain pur et dopés au Cérium par la technique spin-coating. Les films ont été déposés sur des substrats de verre. Les couches minces ont été analysées par plusieurs techniques : la diffraction des rayons X (DRX) pour analyser la structure des couches minces, la spectroscopie UV-visible et Raman pour déterminer les propriétés optiques des couches minces SnO2 : Ce. Et enfin les quatre points pour étudier les propriétés électriques. A partir des résultats de DRX, on a constaté que les couches obtenues sont cristallisées dans une structure rutile. Les spectres UV-Vis montrent que nos couches ont une forte transmittance, qui varie entre 87 à 91%. Les propriétés électriques ne sont pas satisfaisantes (R=𝟖.𝟒𝟗×𝟏𝟎−𝟑𝜴∗𝒄𝒎), mais ces résultats sont très encourageants