Dépôt Institutionnel Université de Jijel

Etude des profils de dopage obtenus par technique SIMS dans des films minces de Si-LPCVD.

Etude des profils de dopage obtenus par technique SIMS dans des films minces de Si-LPCVD.

Boumeshal, Naziha; Merabet, Souad (Encadreur)
URI: http://dspace.univ-jijel.dz:8080/xmlui/handle/123456789/13384
Date: 2013

Description:

Option: Electronique et optoélectronique

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Nom: M-ELE.E.OPT-2013- ...
Taille: 26.75Mo
Format: PDF
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