Dépôt Institutionnel Université de Jijel
Etude des profils de dopage obtenus par technique SIMS dans des films minces de Si-LPCVD.
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| dc.contributor.author | Boumeshal, Naziha | |
| dc.contributor.author | Merabet, Souad (Encadreur) | |
| dc.date.accessioned | 2023-10-24T09:53:13Z | |
| dc.date.available | 2023-10-24T09:53:13Z | |
| dc.date.issued | 2013 | |
| dc.identifier.uri | http://dspace.univ-jijel.dz:8080/xmlui/handle/123456789/13384 | |
| dc.description | Option: Electronique et optoélectronique | fr_FR |
| dc.language.iso | fr | fr_FR |
| dc.publisher | Université de Jijel | fr_FR |
| dc.title | Etude des profils de dopage obtenus par technique SIMS dans des films minces de Si-LPCVD. | fr_FR |
| dc.type | Thesis | fr_FR |
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Mémoires de Master [368]