Dépôt Institutionnel Université de Jijel
Détermination de l'épaisseur des couches minces par ellipsométrie.
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| dc.contributor.author | Bouabbeche, Samia | |
| dc.contributor.author | Birouk, Boubekeur (Encadreur) | |
| dc.date.accessioned | 2023-10-25T12:07:23Z | |
| dc.date.available | 2023-10-25T12:07:23Z | |
| dc.date.issued | 2013 | |
| dc.identifier.uri | http://dspace.univ-jijel.dz:8080/xmlui/handle/123456789/13414 | |
| dc.description | Option: Microélectronique | fr_FR |
| dc.language.iso | fr | fr_FR |
| dc.publisher | Université de Jijel | fr_FR |
| dc.title | Détermination de l'épaisseur des couches minces par ellipsométrie. | fr_FR |
| dc.type | Thesis | fr_FR |
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Mémoires de Master [389]