Dépôt Institutionnel Université de Jijel

Élaboration et caractérisation du silicium nanoporeux obtenu par anodisation électrochimique assistée par illumination laser.

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dc.contributor.author Boucheteb, Abdenasser
dc.contributor.author Kouihal, Zouhir
dc.contributor.author Beghoul, Mahmoud Riad (Encadreur)
dc.date.accessioned 2021-01-24T11:00:08Z
dc.date.available 2021-01-24T11:00:08Z
dc.date.issued 2017
dc.identifier.uri http://dspace.univ-jijel.dz:8080/xmlui/handle/123456789/5127
dc.description Option: Microélectronique fr_FR
dc.description.abstract L'objectif de notre travail est d'étudier le phénomène de transformation des couches de silicium monocristallin en silicium nanostructuré. Plusieurs échantillons de silicium poreux ont été réalisés par anodisation électrochimique sur des substrats Si (100) de type P et N, en faisant varier certains paramètres expérimentaux tels que l'intensité de courant et la durée d'anodisation. Pour mener à bien notre travail, des caractérisations par la Spectroscopie Infra Rouge à Transformée de Fourier (FTIR), Microscopie à Force Atomique (AFM) et mesure de Réflectance ont été réalisées sur plusieurs échantillons. Les résultats d'analyses nous ont permis de mettre en évidence l'influence des paramètres d'anodisation et en particulier l'intensité de courant et la durée d'anodisation, Le calcul de la porosité des couches nanostructurées nous donne une variation de cette dernière allant de 40 à 90%. Par un choix judicieux des paramètres expérimentaux il est possible de contrôler la taille des nanostructures et la porosité des échantillons élaborés, fr_FR
dc.language.iso fr fr_FR
dc.publisher Université de Jijel fr_FR
dc.subject Silicium poreux, anodisation électrochimique, laser, FTIR, AFM, réflectance fr_FR
dc.title Élaboration et caractérisation du silicium nanoporeux obtenu par anodisation électrochimique assistée par illumination laser. fr_FR
dc.type Thesis fr_FR


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